负责4G基站射频模拟电路模块设计及测试验证,聚焦ADC/DAC接口、跨阻放大器(TIA)等关键模块开发,衔接设计与测试环节。
- 参与4G RRU的ADC/DAC接口电路设计,基于MATLAB建立采样抖动模型(Jitter=√(Δt²+Δf²)),选用AD9208(14bit, 1GSPS)芯片并优化时钟分配网络(采用低抖动VCXO+扇出缓冲器),将采样时钟抖动从200fs降至150fs,系统SNR提升2dB(从58dB至60dB),满足3GPP对LTE-A Pro的解调门限要求。
- 调试TIA模块时发现输入阻抗不匹配导致带宽不足(原设计1GHz vs 目标2GHz),通过S参数反推调整反馈电阻(从1kΩ降至600Ω)与补偿电容(增加2pF),最终-3dB带宽达2.2GHz,同时噪声系数控制在1.2nV/√Hz(优于指标1.5nV/√Hz),支撑光模块接收灵敏度提升3dBm。
- 搭建ATE自动测试平台(基于Teradyne ETS),编写12类测试用例(覆盖增益、带宽、噪声等),实现100片样品/天的高效测试,故障定位时间从4小时/片缩短至2.4小时/片,加速问题收敛。
- 主导温循测试(-40℃~85℃)失效分析,发现偏置电路中基准源温漂(原±100ppm/℃)导致增益漂移(±0.5dB),更换为低温漂基准源(±10ppm/℃)并增加热敏电阻补偿网络,漂移量降至±0.2dB,通过Telcordia GR-468可靠性认证。